オプトデバイス評価用プローバー

各種受光デバイス、発光デバイス評価用プローブ・システム

各種受光デバイス、発光デバイスの光学的特性、電気的特性をオンウェハまたはチップ状態で測定可能なシステムを設計製作でご提供させていただきます。

研究開発用のコンパクトなマニュアルシステムから、ウェハ面内自動測定に対応したセミオート・システムまで、お客様のアプリケーションに最適なオプトデバイステストシステムをご提供いたします。

アプリケーション

LED、マイクロLED、VCSEL、レーザーダイオード、有機ELなど発光素子の特性評価
光センサー、CMOSセンサー、太陽電池など受光素子の特性評価

システム構築例

セミオート受光素子I-V・C-V
テストシステム（6インチφ）

顕微測光鏡筒搭載セミオートプローブシステム
VCSEL素子評価用（2インチφ）

ダブルサイドセミオートプローブシステム
受光素子評価用（8インチφグリップリング）

チップトレイやゲルバックに搭載された個片デバイスの自動測定

不良ダイマーキング対応
（インカー）

ダブルサイドマニュアルプローバー
受発光素子テスト仕様（3インチφ）

システムインテグレーション

ハイソルプローブ・システムと各種計測機器をインテグレーションし、統合した測定システムとしてワン・ストップ・ソリューションでご提供させて頂きます。

ハーネス、アクセサリ、カスタムソフトウェア等、お客様のご要求アプリケーションに最適な測定システムをご提案いたします。

インテグレーション実績有計測器メーカー様

（順不同、敬称略）

キーサイト・テクノロジー(株)
テクトロニクス / ケースレーインスツルメンツ
(株)エヌエフ回路設計ブロック
ローデ・シュワルツ・ジャパン(株)
日置電機(株)
岩崎通信機(株)
(株)エーディーシー
(株)テクシオ・テクノロジー
他多数

インテグレーション実績有ユニットメーカー様（順不同、敬称略）

HOYA(株)、ブイ・テクノロジー(株)、朝日分光(株)、浜松ホトニクス(株)、エヌピイエス(株）　他多数

カタログダウンロード（PDF）

ハイソルプローブシステム総合カタログ

ハイソルプローブ
システム総合カタログ

お問い合わせ

フォームが表示されるまでしばらくお待ち下さい。

恐れ入りますが、しばらくお待ちいただいてもフォームが表示されない場合は、こちらまでお問い合わせください。

個人情報保護方針(プライバシーポリシー)

個人情報に関する法令・規範を遵守します。
当社はお客様の個人情報への不正アクセス、紛失、破壊、改ざん及び漏洩等の防止に努めます。
個人情報は法令に基づき開示される以外は、個人情報をお客様に明示した利用目的の範囲内で取扱い、第三者に譲渡、提供はしません。
当社は個人情報保護に対する取組みを継続的に見直し、適宜改善します。

ページの上へ

お問い合わせ