電磁石搭載磁場印加プローバー

hisol-logo-w180磁場印加 非磁性プローバー

各種スピントロニクスデバイスや、ホールデバイス評価用の、磁場印加型プローブシステムを設計製作にてご提案させていただきます。

要素技術

  • 高度な非磁性構造
  • 優れた磁場ヒステリシス特性
  • 超低残留磁界電磁石対応
  • 面内磁界、垂直磁界に対応
  • 磁場印加、測定アプリケーションソフトウェアの提供
  • トレーサブルな磁場キャリブレーションツール、補正ソフトウェアの提供
  • 温度特性評価 -65℃ ~ +200℃対応
  • 低抵抗測定、RF測定(~67GHz)
  • マニュアル、セミオート対応

システム製作例

面内磁界印加

prober-other-08
面内磁場マニュアルプローバー
(磁気抵抗測定用)
対応サンプルサイズ 個片~φ2インチ
面内磁場発生範囲 XY ±200mT(2k Oe)
ヨーク材質 超低残留材
温度制御範囲 なし(室温のみ)
prober-other-01
面内磁場高温マニュアルプローバー
(高周波測定対応)
対応サンプルサイズ 個片~φ6インチ
面内磁場発生範囲 XY ±300mT(3k Oe)
ヨーク材質 超低残留材
温度制御範囲 室温 ~ +200℃

垂直磁界印加

prober-other-04
垂直磁場マニュアルプローバー
(高周波測定用)
対応サンプルサイズ 個片~φ3インチ
垂直磁場発生範囲 ±750mT(7.5k Oe)
ヨーク材質 超低残留材
温度制御範囲 なし(室温のみ)
prober-other-06
垂直磁界マグネット

prober-other-05
非磁性チャック(室温仕様)

prober-other-02S
垂直磁場マニュアルプローバー
(ホールデバイス評価)
対応サンプルサイズ 個片~φ8インチ
垂直磁場発生範囲 ±200mT(2k Oe)
ヨーク材質 超低残留材
温度制御範囲 -60℃ ~ +200℃
prober-other-03
倒立方垂直磁界マグネット

prober-other-07
非磁性高低温チャック

※ ご要求仕様に基づき、最適なシステム提案をさせていただきます。 是非ご相談ください。

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