磁場印加 非磁性プローバー
各種スピントロニクスデバイスや、ホールデバイス評価用の、磁場印加型プローブシステムを設計製作にてご提案させていただきます。
要素技術
- 高度な非磁性構造
- 優れた磁場ヒステリシス特性
- 超低残留磁界電磁石対応
- 面内磁界、垂直磁界に対応
- 磁場印加、測定アプリケーションソフトウェアの提供
- トレーサブルな磁場キャリブレーションツール、補正ソフトウェアの提供
- 温度特性評価 -65℃ ～ +200℃対応
- 低抵抗測定、RF測定（～67GHz）
- マニュアル、セミオート対応
システム製作例
面内磁界印加
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| 面内磁場マニュアルプローバー （磁気抵抗測定用） |
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| 対応サンプルサイズ | 個片～φ2インチ |
| 面内磁場発生範囲 | XY ±200mT（2k Oe） |
| ヨーク材質 | 超低残留材 |
| 温度制御範囲 | なし（室温のみ） |
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| 面内磁場高温マニュアルプローバー （高周波測定対応） |
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| 対応サンプルサイズ | 個片～φ6インチ |
| 面内磁場発生範囲 | XY ±300mT（3k Oe） |
| ヨーク材質 | 超低残留材 |
| 温度制御範囲 | 室温 ～ +200℃ |
垂直磁界印加
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| 垂直磁場マニュアルプローバー （高周波測定用） |
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| 対応サンプルサイズ | 個片～φ3インチ |
| 垂直磁場発生範囲 | ±750mT（7.5k Oe） |
| ヨーク材質 | 超低残留材 |
| 温度制御範囲 | なし（室温のみ） |
垂直磁界マグネット
非磁性チャック（室温仕様）
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| 垂直磁場マニュアルプローバー （ホールデバイス評価） |
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| 対応サンプルサイズ | 個片～φ8インチ |
| 垂直磁場発生範囲 | ±200mT（2k Oe） |
| ヨーク材質 | 超低残留材 |
| 温度制御範囲 | -60℃ ～ +200℃ |
倒立方垂直磁界マグネット
非磁性高低温チャック
※ ご要求仕様に基づき、最適なシステム提案をさせていただきます。 是非ご相談ください。
