-65℃~+400℃の温度特性評価、ウェハレベル信頼性試験
低ノイズ、低リークを追及した次世代半導体デバイス対応のマニュアルプローブシステムです。
シールドチャンバー構造による完全なEMIシールド環境内に、プローブおよびチャックが収納されており、温度制御範囲-65℃~+300℃(特殊オプション+400℃)において、極限領域での超微小信号I-V・C-V測定、1/fノイズ測定、Sパラメータ取得、RTN(ランダムテレグラフノイズ)測定、高速I-V測定などのマニュアル測定に対応します。
またオプションで大電流、高電圧パワーデバイスアプリケーションにも対応可能です。
・ HMP-810SC:8インチ (φ200mm) 対応
・ HMP-1210SC:12インチ (φ300mm) 対応
アプリケーション
- +15℃~+300℃ /+400℃ または-65℃~+300℃範囲の温度特性試験
- 微小信号I-V測定(fAレベル)
- 各種C-V測定(Quasi-Static C-V, HF-CV,RF-CV)
- 1/fノイズ評価
- RTN(ランダムテレグラフノイズ)評価
- 高周波ノイズ評価(~800MHz)
- RF測定(~67GHz)
- 超高速I-V測定
拡張アプリケーション
- N2、Ar等不活性ガス環境下でのテスト(露点温度-70℃、残留酸素濃度100ppm以下)
- プローブカード対応(マルチサイトWLR対応可)
- アクティブ除振台、オートフォーカス光学系、画像認識アライメントによる超高精度プロービング
- オプティカルデバイス(LED, LD, VCSEL, PDなど)の受発光特性評価アプリケーション
- ハイパワーデバイス測定(200A Pulse, ±3kV triaxial, ±10kVcoaxial)※8インチモデル
- ウエハレベル信頼性試験(EM, TDDB,HCI, NBTI,BTなど)※240時間以上の連続試験可能
システム構築例
代表仕様
項目 | HMP-810SC | HMP-1210SC |
---|---|---|
ステージXY移動範囲(粗動) | X : 210mm, Y : 210mm | X : 310mm, Y : 310mm |
ステージXY移動範囲(微動) | 同上 | 同上 |
ステージθ移動範囲 | ±5° | |
プラテンZ軸アクション | 0 –0.3mm | |
ステージZ軸調整範囲 | 0 ~20mm | |
システム寸法(W×D×H)※ | 960 ×980 ×1550 mm | 1100 ×1000 ×1550 mm |
システム重量※ | 約750 kg | 約870 kg |
※システムの構成により変動します。
●記載の仕様は予告なく変更される場合があります。
オプション
掲載製品以外のオプション製品も多数ご用意しております。ご要望のアプリケーションをご相談ください。
システムインテグレーション

ハイソルプローブ・システムと各種計測機器をインテグレーションし、統合した測定システムとしてワン・ストップ・ソリューションでご提供させて頂きます。
ハーネス、アクセサリ、カスタムソフトウェア等、お客様のご要求アプリケーションに最適な測定システムをご提案いたします。
インテグレーション実績有 計測器メーカー様
(順不同、敬称略)
- キーサイト・テクノロジー(株)
- テクトロニクス / ケースレーインスツルメンツ
- (株)エヌエフ回路設計ブロック
- ローデ・シュワルツ・ジャパン(株)
- 日置電機(株)
- 岩崎通信機(株)
- (株)エーディーシー
- (株)テクシオ・テクノロジー
他 多数
インテグレーション実績有 ユニットメーカー様(順不同、敬称略)
HOYA(株)、ブイ・テクノロジー(株)、朝日分光(株)、浜松ホトニクス(株)、エヌピイエス(株) 他 多数
カタログダウンロード(PDF)
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