各種 受光デバイス、発光デバイスの光学的特性、電気的特性をオンウェハまたはチップ状態で測定可能なシステムを設計製作でご提供します。
研究開発用のコンパクトなマニュアルシステムから、ウェハ面内自動測定に対応したセミオート・システムまで、お客様のテストアプリケーションに最適なオプトデバイステストシステムをご提供いたします。