太陽電池故障解析装置
ライトを照射してサンプルを刺激している間、反射光でサンプルを画像化するために共焦点顕微鏡で走査し、2つの画像を作ります。
- 光学イメージ
- 刺激されて再放出された光子のシュミレート画像
- 「ステッチ」画像によってセル全体の画像を見ることができます。
- ステッチ画像の最大視野：8×8インチ
- 欠陥を調査する為に個々の画像を見ることができます。
![[画像の統計分析]](http://www.hisol.jp/wp/wp-content/uploads/products/meme/i-06.jpg){kind=small}
- 光源によって発生した電流を測定
- 統計値は分、最大、平均及び標準偏差を含んでいます
- ユーザーは気になる領域を画面上に表示することができます
PEMは太陽電池からのエレクトロルミネセンス(EL)排出を集めるように設計されており、セル全体は「ステッチ」で画像化させるようになっております
順バイアスのセルは光子を発生し、光子の無い場所は有効性の低い領域を示しています。
PEMはInGaAs NIRカメラで撮影された小さな太陽電池を画像にします。
- セル内で起こる電流発生の空間変動測定
- セルからセルへの変動を比較
- 波長毎に異なる電流発生を比較
- セル内の太陽電池エレクトロルミネセンス検出の欠陥を比較
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