EMS 半導体デバイス信頼性試験
【長期試験】受託試験サービス
| 低温保存試験 | 電源電圧条件 | 試験時間 | 業界規格 | |
|---|---|---|---|---|
| 高温動作試験 | Ta=70℃～125℃ | 推奨動作電圧 | 1000時間 | EIAJ ED-4701 及びMIL-STD-883 |
| 高温高湿動作試験 | Ta=70℃～85℃ Ha＝60％～90％ |
推奨動作電圧 | 1000時間 | EIAJ ED-4701 及びMIL-STD-883 |
| 低温動作試験 | Ta=-10℃～-55℃ | 推奨動作電圧 | 1000時間 | EIAJ ED-4701 及びMIL-STD-883 |
| 高温バイアス試験 | Ta=70℃～175℃ Ha=60％～90％ |
最大定格 | 1000時間 | EIAJ ED-4701 及びMIL-STD-883 |
| 高温高湿バイアス試験 | Ta=60℃～85℃ | 最大定格 | 1000時間 | EIAJ ED-4701 及びMIL-STD-883 |
| 高温保存試験 | Ta=60℃～175℃ | 未印加 | 1000時間 | EIAJ ED-4701 及びMIL-STD-883 |
| 高温高湿保存試験 | Ta=60℃～85℃ Ha=60％～90％ |
未印加 | 1000時間 | EIAJ ED-4701 及びMIL-STD-883 |
| 低温保存試験 | Ta=-10℃～-55℃ | 未印加 | 1000時間 | EIAJ ED-4701 及びMIL-STD-883 |
【短期試験】受託試験サービス
| 試験条件(ユーザ仕様でも可)環境条件 | 試験時間 | 業界規格 | |
|---|---|---|---|
| 温度サイクル試験 | Ta=125℃(30分) 室温(5分) Ta=-55℃(30分) |
50cycle | EIAJ ED-4701 及びMIL-STD-883 |
| 熱衝撃試験 | 協議による | 100時間 | EIAJ ED-4701 及びMIL-STD-883 |
| プレッシャークッカー試験 | Ta=121℃Ha=100% P=2atm | 10cycle | EIAJ ED-4701 及びMIL-STD-883 |
| 温湿度サイクル試験 | MIL-STD-202 106Dによる | EIAJ ED-4701 及びMIL-STD-883 |
|
| 静電破壊試験(HBM法) | 電源端子対 1.5KΩ、200pF | ||
| 静電破壊試験(MM法) | 電源端子対 0Ω、200pF | ||
| リフロー試験 | デバイス推奨条件 | ||
| 熱履歴 | デバイス推奨条件 | ||
| 振動試験 | 協議による | ||
| 落下試験 | 協議による | ||
| 引張り強度試験 | 協議による |
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